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快速溫度變化試驗箱半導體器件
簡要描述：

使器件核心區域溫變速率與設定值偏差≤0.5℃/min，精準復現芯片在高低溫沖擊下的工作狀態。
快速溫度變化試驗箱半導體器件

型號：TEB-600PF

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更新時間：2025-08-08

價格：32000

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快速溫度變化試驗箱半導體器件
品牌廣皓天產地國產
溫度波動范圍士0,3'C(-20~+100'C)±0.5*C(+100.1~+150*C)+2.5%RH外殼材料防銹處理冷軋鋼板士2688粉體涂裝或SUS304不銹鋼
絕緣材料硬質聚氨酯泡沫塑料(箱體用)玻璃棉(箱門用)制冷方式機械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器)

生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

快速溫度變化試驗箱半導體器件

工作原理

采用微環境精準控溫技術，通過三級復疊式制冷系統與納米薄膜加熱組件協同作用，構建半導體器件測試所需的極速溫變環境。制冷端以 R170/R23 混合冷媒實現 - 80℃深冷輸出，加熱端采用石墨烯涂層加熱片，熱響應速度提升至 0.1 秒級。設備內置半導體專用夾具，通過熱電偶與器件 Pin 腳直接接觸，實時傳導溫度變化，配合 3D 擾流風道，使器件核心區域溫變速率與設定值偏差≤0.5℃/min，精準復現芯片在高低溫沖擊下的工作狀態。

快速溫度變化試驗箱半導體器件

快速溫度變化試驗箱半導體器件

產品優勢

針對半導體器件體積小、熱容量低的特點，設計最小 10L 微測試腔體，溫場均勻性達 ±0.8℃，避免傳統大腔體的溫度滯后問題。具備 ESD 防靜電設計（接地電阻≤1Ω），可直接測試未封裝晶圓，防止靜電擊穿 MOS 管等敏感元件。支持與半導體參數分析儀聯動，在溫變過程中同步采集 IV 曲線、閾值電壓等關鍵參數，測試效率較分步測試提升 50%。
產品性能

在 - 60℃至 150℃溫區范圍內，連續 1000 次循環測試后，器件接觸區域溫度偏差≤±0.3℃。溫變速率可達 20℃/min，從 - 55℃升至 125℃僅需 9 分鐘，且在速率 10℃/min 時，過沖量控制在 ±1℃以內。搭載 16 通道信號隔離采集模塊，可同時監測 8 顆芯片的工作狀態，數據采樣率達 1MHz，確保捕捉瞬態溫度變化對器件性能的影響。


快速溫度變化試驗箱半導體器件


產品核心

核心在于 “溫度 - 電性能" 同步測試系統，由高精度鉑電阻傳感器（精度 0.01℃）、高速數據采集卡（12 位 AD 轉換）和 FPGA 實時控制器組成閉環控制網絡。設備內置 100 組半導體行業標準測試程序，涵蓋 JEDEC JESD22-A104G 等規范要求，可直接調用進行芯片高低溫循環、溫度循環耐久性等測試，核心控制算法響應時間≤1ms。


快速溫度變化試驗箱半導體器件



溫度控制系統
采用雙 PID + 模型預測控制算法，針對半導體 PN 結溫度特性建立專屬數學模型，提前 5 秒預判溫變趨勢。制冷系統配備磁懸浮變頻壓縮機，通過 20kHz 高頻調節冷媒流量；加熱系統采用脈沖寬度調制技術，最小調節精度達 1W。系統支持 - 80℃~200℃超寬溫域控制，在 - 55℃~125℃測試區間內，控溫精度達 ±0.2℃，滿足車規級芯片 AEC-Q100 標準的嚴苛要求。此外，內置露點監測模塊，當腔體內濕度＞30% RH 時自動啟動干燥功能，防止水汽凝結導致器件短路。



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